檢索結果：共3筆資料 檢索策略： "Kung-Jeng Wang".eadvisor (精準) and ckeyword.raw="卷積神經網絡"
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高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法，自動光學檢測（Automated Optical Inspection, AOI）常應用於此。然而，AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
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電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛，因此在自動光學檢測（Automated Optical Inspection, AOI）容易因敏感度提高而出現過篩現象，常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
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傳統的自動光學檢查（AOI）系統於處理影像時存在準確度和速度問題。本研究提出了一種基於卷積神經網絡（CNN）的三階瑕疵檢測模型，以克服傳統AOI方法的缺點，此模型並可處理多重缺陷和多鏡頭情境。在第一…